DP-DMR-1C型方阻仪

使

用

说

明

书

北京亚欧德鹏科有限公司

DP-DMR-1C型方阻仪是种于测量塑料薄膜金属镀层方块电阻的仪器，也可以用于测量其它各种薄膜导电材料。由于方阻与镀层厚度成反比，可以通过称重法或者其它计量方法，由方阻推算出镀层厚度。仪器配有的、带弹簧的四探针探头。由于探针带有弹簧，使得测试时压力恒定，接触可靠，测试稳定，寿命也长。

面板示意图如下。

• 参数

1. 测量范围：1mΩ-20KΩ分为五个量程

1. 1 基本误差：△=±0.2%

2、2 仪器分的基本误差±0.2%±2个字

     2000mΩ档为△=±0.2%±5个字

1. 作环境：温度5℃-40℃，湿度20%-80%RH
2. 电    源：220V±10%，50/60Hz，3VA
3. 外形尺寸：宽200×80×深200（mm）,重1.5kg

• 作原理

    方块电阻的定义见附录，镀金属塑料薄膜方块电阻的测试可以

采用四探针测试原理。测试探头上的四个探针等距离分布，“1、4”探针提供测试电流，“2、3”探针提取电位差。在膜宽大大于探针间距时，就可以计算出方阻与等效四端电阻的比值为4.532。仪器内根据这个比值自动计算出方阻大小。

等效四端电阻测试采用电流电压法测试原理，原理如图所示。由恒流源输出恒稳的电流供给被测电阻Rx，恒定电流的大小由K1选择，该选择也即决定仪器的量程。Rx上的电压降经直流放大器放大后，送到数

字显示电路。因Rx=V/I，数字显示电路根据直流放大器送来的V和恒流源送来的代表I的信号（即基准信号），即可显示出Rx的大小。

因为采用了电流电压法的四端测试原理，这样就可以消除端口接触电阻和引线电阻的影响，保证了测试度。消除端口电阻影响的原理是，供给电流的端口1、4，也称为I端口，由于恒流源输出的电流不受外电阻的影响，所以1、4端口存在的杂散电阻不会改变流过Rx电流的大小，也即不会影响电阻测试的准确度。提取电压降的端口2、3也称为V端口或P端口。由于直流电压放大器是输入阻抗放大器，2、3端口即使存在几十欧姆的杂散电阻，也不会影响放大器得到的输入电压，这样仪器便能测试小到几个毫欧的电阻，而不会受到测试线和端口杂散电阻的影响。

三、使用方法

1. 开启位于仪器后的电源开关，予热5分种。

    2、把被测薄膜有镀层面朝上放在平整的桌面上，硬度要适中。

    3、把探头放在要测的位，轻轻压下，选择合适的量程，即可从方阻仪上显示出镀层的方阻值。

    4、根据四探针测试原理要求，探头与镀膜边缘要有定的距离，才能保证有较准确的读数。因此探头与被测镀膜的边缘不能太近。如定需要，也应使探针的排列与边缘成垂直状态。同理，在膜窄时也应采取这样的措施。但要注意的是：虽然采取这样的措施，也会使读数上升5%-20%，由探针与边缘距离的大小决定。

5、仪器的零点检查

    由于仪器的zui大零点飘移量小于±1个字，所以平常使用时不需行零点检查。但经过半年，或有故障时应检查次零点，方法如下：

方法，找块光洁的紫铜板，量程置于大量程档，把探头压在紫铜板上，此时读数应为零。

方法二：找四根带香蕉插头的测试线，把1、4端联在起，2、3端联在起，然后再找根导线把两个端头联在起，如图二所示。此时按仪器何量程，均应显示零。如各量程的零点偏差小于2个字，可以调节仪器内，印刷左上的零点微调，使偏差为零。如各量程的零点偏差大于2个字，则表示仪器有故障，应送回本厂修理。

• 仪器的计量与维护

1. 检查仪器的零点。

    2、仪器的计量可用0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω五只标准电阻检查仪器的五个量程。

    计量时准备四根带香蕉插头和鳄鱼夹的测试线，按图三所示的方法联接仪器和标准电阻。用0.1Ω计量2000mΩ量程，此时读数应为453mΩ。用1Ω计量 20Ω量程，此时读数应为4.53Ω。用10Ω计量200Ω量程，此时的读数应为45.3Ω。用100Ω计量2000Ω量程，此时的读数应为453Ω。计量结果应满足参数中关于误差的规定。

    般情况下，可用只1Ω或者2Ω，度为分之二的标准电阻，计量仪器的20Ω量程，读数应为标准电阻值乘上4.532倍。如差，可卸下仪器的四个橡皮脚螺丝，取下上盖，调节电路板中的微调电阻，使读数准确。

    2、仪器出故障时，应检查测试探头上的四根测试线是否联接好，以及电源分的电缆、插头、插座、保险丝等是否好。如确系仪器内故障应送回本公司修理，因集成电路和电阻都经过配对，自行修理有可能成难以恢复的损坏。本仪器实行三包，免费修理期为年。

    3、仪器应避免在潮湿的环境下使用。不使用时应用塑料罩了，以防水汽和灰尘的影响。

附录：什么是方阻

蒸发铝膜、导电漆膜、印制电路板铜箔膜等薄膜状导电材料，衡量它们厚度的方法就是测试它们的方阻。什么是方阻呢？方阻就是方块电阻，个正方形的薄膜导电材料边到边“之”间的电阻，如图所示，即B边到C边的电阻值。方块电阻有个特性，即意大小的正方形边到边的电阻都是样的，不管边长是1米还是0.1米，它们的方阻都是样，这样方阻仅与导电膜的厚度等因素有关。

方块电阻如何测试呢，可不可以用表电阻档直接测试图所示的材料呢？不可以的，因表的表笔只能测试点到点之间的电阻，而这个点到点之间的电阻不表示何意义。如要测试方阻，我们需要在A边和B边各压上个电阻比导电膜电阻小得多的圆铜棒，而且这个圆铜棒光洁度要，以便和导电膜接触良好。这样我们就可以通过用表测试两铜棒之间的电阻来测出导电薄膜材料的方阻。如果方阻值小，如在几个欧姆以下，因为存在接触电阻以及表本身性能等因素，用表测试就会存在读数不稳和测不准的情况。这时就需要用专门的用四端测试的低电阻测试仪器，如毫欧计、微欧仪等。测试方法如下：用四根光洁的圆铜棒压在导电薄膜上，如图二所示。四根铜棒用A、B、C、D表示，它们上面焊有导线接到毫欧计上，我们使BC之间的距离L等于导电薄膜的宽度W，至于AB、CD之间的距离没有要求，般在10--20mm就可以了，接通毫欧计以后，毫欧计显示的阻值就是材料的方阻值。这种测试方法的优点是：（1）用这种方法毫欧计可以测试到几百毫欧，几十毫欧，甚至更小的方阻值，（2）由于采用四端测试，铜棒和导电膜之间的接触电阻，铜棒到仪器的引线电阻，即使比被测电阻大也不会影响测试度。（3）测试度。由于毫欧计等仪器的度很，方阻的测试度主要由膜宽W和导电棒BC之间的距离L的机械度决定，由于尺寸大，这个机械度可以做得。在实际操作时，为了提测试度和为了测试长条状材料，W和L不定相等，可以使L比W

大很多，此时方阻Rs=Rx*W/L,Rx为毫欧计读数。

此方法虽然度，但麻烦，尤其在导电薄膜材料大，形状不整齐时，很难测试，这时就需要用的四探针探头来测试材料的方阻，如图三所示。探头由四根探针阻成，要求四根探针头的距离相等。四根探针由四根引联接到方阻测试仪上，当探头压在导电薄膜材料上面时，方阻计就能立即显示出材料的方阻值，具体原理是外端的两根探针产生电流场，内端上两根探针测试电流场在这两个探点上形成的电势。因为方阻越大，产生的电势也越大，因此就可以测出材料的方阻值。需要提出的是虽然都是四端测试，但原理上与图二所示用铜棒测方阻的方法不同。因电流场中仅少分电流在BC点上产生电压（电势）。所示灵敏度要低得多，比值为1：4.53。

影响探头法测试方阻度的因素：（1）要求探头边缘到材料边缘的距离大大于探针间距，般要求10倍以上。（2）要求探针头之间的距离相等，否则就要产生等比例测试误差。（3）理论上讲探针头与导电薄膜接触的点越小越好。但实际应用时，因针状电容易破坏被测试的导电薄膜材料，所以般采用圆形探针头。

zui后谈谈实际应用中存在的问题

    1、如果被测导电薄膜材料表面上不干净，存在油污或材料暴露在空气中时间过长，形成氧化层，会影响测试稳定性和测试度。在测试中需要引起注意。

    2、如探头的探针油污等也会引起测试不稳，此时可以把探头在干净的白纸上滑动几下擦擦就可以了。

    3、如果材料是蒸发铝膜等，蒸发的厚度又太薄的话，形成的铝膜不能均匀的连成片，而是形成点状分布，此时方块电阻值会大大增加，与通过称重法计算的厚度和方阻值不样，此时就要考虑到加入修正系数

北京亚欧德鹏科有限公司

www.51298264.com