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熔点仪 型号：DP-SGW X-4 描述

发布时间：2016/11/16点击次数：323

显微熔点仪 熔点仪 型号：DP-SGW X-4

特点：

测定物质的熔点。主要用于药物、化、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻法（热台片法）测定。

主要参数：
熔点测量范围：室温至320℃ 
测量重复性：±1℃ （在＜200℃ 时）

±2℃（在20 .0℃ 320℃ 时）

 

 

X-4

X-4A

X-4B

温度显示zui小值

1℃

0.1℃

0.1℃

熔点观察方式

单目显微镜

单目显微镜

双目体视显微镜

光学放大倍数

40×

40×

40×-100×连续变倍

 

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